1.采用航天級材料，保證試驗箱質(zhì)量和性能的高可靠性

2.高精度溫度控制系統(tǒng)，可以實現(xiàn)快速升溫和降溫，提高試驗效率

3.簡單易用的控制系統(tǒng)，操作方便，支持遠(yuǎn)程控制和監(jiān)測

4.溫度范圍，適用于多種航空航天領(lǐng)域的試驗需求

5.大容積設(shè)計，可容納多種尺寸的測試樣品

6.安全可靠的設(shè)計，具備完備的安全保護(hù)系統(tǒng)，保證試驗過程中的安全性

7.高端外觀設(shè)計，時尚、美觀、大氣，增強(qiáng)產(chǎn)品品質(zhì)感

8.優(yōu)質(zhì)客戶服務(wù)，提供完善的售前、售中、售后服務(wù)，滿足客戶需求

結(jié)構(gòu)特征：

1.快速溫變試驗箱主要由箱體、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、空氣循環(huán)系統(tǒng)以及控制系統(tǒng)組成。

2.箱體的外殼為采用冷軋鋼板電噴塑（用戶可選優(yōu)質(zhì)不銹鋼板），內(nèi)膽采用優(yōu)質(zhì)不銹鋼板，箱門中間設(shè)大面積觀察窗，并配有觀察燈，使用戶可以清晰地看到試樣的試驗情況。

3.外型整體美觀大方。保溫層為硬質(zhì)聚氨脂發(fā)泡加上少量的超細(xì)玻璃棉，具有強(qiáng)度高，保溫性有好等特點。

4.該設(shè)備主要溫度控制儀采用智能數(shù)顯溫濕度控制儀，人性化設(shè)計的操作方法，易學(xué)易用，并且不同功能檔次的儀表操作相互兼容。

5.輸入采用數(shù)字校正系統(tǒng)，內(nèi)置常用熱電偶和熱電阻非線性校正表格，測量精確穩(wěn)定。

6.具備位式調(diào)節(jié)和AI人工智能調(diào)節(jié)功能，0.2級精度，多種報警模式。升溫、降溫、加濕、去濕獨立，獨特的BTHC平衡調(diào)溫調(diào)濕方式。

7.制冷系統(tǒng)采用全封閉進(jìn)口壓縮機(jī)組，機(jī)械式單級制冷或復(fù)迭低溫回路系統(tǒng)，全自動控制與安全保護(hù)協(xié)調(diào)系統(tǒng)。加熱采用不銹鋼翅片加熱管。

制冷工作原理：

制冷循環(huán)采用逆卡若循環(huán)，該循環(huán)出兩個等溫過程和兩個絕熱過程組成，其過程如下：制冷劑經(jīng)壓縮機(jī)絕熱壓縮到較高的壓力，消耗了功使排氣溫度升高，之后制冷劑經(jīng)冷凝器等溫地和四周介質(zhì)進(jìn)行熱交換將熱量傳給四周介質(zhì)。后制冷劑經(jīng)截流閥絕熱膨脹做功，這是制冷劑溫度降低。最后通過蒸發(fā)器等溫地從溫度較高的物體吸熱，使被冷卻物體溫度降低。此循環(huán)周而復(fù)始從而達(dá)到降溫的目的。本試驗箱之了、制冷系統(tǒng)采用一套法國產(chǎn)泰康全封閉壓縮機(jī)所組成的單元氟利昂制冷系統(tǒng)。制冷系統(tǒng)的設(shè)計應(yīng)用能量調(diào)節(jié)技術(shù)，既能保證制冷機(jī)組正常運行，又能對制冷系統(tǒng)的能耗及制冷量進(jìn)行有效調(diào)節(jié)，使制冷系統(tǒng)保持在最佳狀態(tài)。采用平衡調(diào)溫（BTC),既在制冷系統(tǒng)在連續(xù)工作的情況下，控制系統(tǒng)根據(jù)設(shè)定的溫度點通過PID自動運算輸出的結(jié)果去控制加熱器的輸出量，最終達(dá)到一種動態(tài)平衡。

試驗箱材質(zhì)：

內(nèi)箱材質(zhì)：SUS#304耐熱耐寒不銹鋼一級鏡面光板.

外箱材質(zhì)：高韌性冷軋不銹鋼板并以無溶劑粉體樹酯涂裝.

保溫材質(zhì)：耐火級高強(qiáng)度PU聚氨酯發(fā)泡保溫絕緣材料(比一般PU更具斷熱,耐火功效),保溫系數(shù):小于0.0212kcal/mhr.

箱門：全開式箱門1式,單扇開啟式.

門氣密材料：高張力硅膠密封條,耐溫-90~280℃.

觀測窗：長方形觀測窗，采熒光燈保持箱內(nèi)明亮，帶自動除霜功能，電子加熱，任何試驗時玻璃表面無霜及凝露現(xiàn)象.

測試孔：外接纜線用測試孔1只 (直徑50 mm),附不銹鋼孔蓋,硅膠塞.

試品架：配備2只可調(diào)式不銹鋼試品架.

腳輪：附可調(diào)式和固定式活動輪各4組,方便設(shè)備定位及水平調(diào)整.

滿足標(biāo)準(zhǔn)：

1. GB/T2424.1-2015環(huán)境試驗

2. GB/T2424.2-2015電工電子環(huán)境試驗箱：濕熱試驗導(dǎo)則。

3. GB/T2424.5-2021環(huán)境試驗 第3部分

4. GB/T2424.6-2021環(huán)境試驗 第3部分

5. GB/T2424.7-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗

6. GB/T2424.27-2013環(huán)境試驗

7. GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗A:低溫

8. GB/T2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫

9. GJB150.3-2009 設(shè)備環(huán)境試驗方法 高溫試驗

10. GJB150.4-2009 設(shè)備環(huán)境試驗方法 低溫試驗

11. GJB 150.9-2009 設(shè)備環(huán)境試驗方法 濕熱試驗

12. GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件